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易高涂层测厚仪测定值受到哪些影响因素

更新时间:2021-10-25   点击次数:40次
  易高涂层测厚仪能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。通过使用不同的测头,还可满足多种测量的需要;既可用于实验室,也可用于工程现场。广泛用于石油、机械、船舶等行业检测管道、锅炉和压力容器的壁厚。仪采用了磁性和电涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。
 
  易高涂层测厚仪可以测量金属、木材、塑料和橡胶等基材上的涂层厚度。基于原理的不同可以分为几种:电磁法测厚仪,光热法测厚仪,涡流法测厚仪。基于是否会破坏底材,分为无损测厚仪,跟有损测厚仪。
 
  易高涂层测厚仪测定值受到影响的因素:
 
  a)基体金属磁性质
 
  磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
 
  b)基体金属电性质
 
  基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
 
  c)基体金属厚度
 
  每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
 
  d)边缘效应本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
 
  e)曲率
 
  试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
 
  f)试件的变形测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
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